【摘要】采用脉冲激光沉积(PLD)法在石英衬底上制备了Zn0薄膜。为研究Zn0薄膜内部主要点缺陷，我们用(002) Zn0单晶与Zn0薄膜作对比，并进行了霍尔测试、X线衍射(XRD)和光学透射谱等基本表征。霍尔测量得到的高的霍尔迁移率及XRD图表明，制备的Zn0薄膜结晶良好，具有沿c轴高度择优取向。
【关键词】
《西北水电》 2015-11-13
《广州大学学报（社会科学版）》 2015-11-13
《压电与声光》 2015-11-13
《单片机与嵌入式系统应用》 2015-11-13
《改革与开放》 2015-11-13
《黑龙江冶金》 2015-11-13
《纺织科技进展》 2015-11-13
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010-56259535
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