中教数据库 > 压电与声光 > 文章详情

声表面波Zn0薄膜紫外探测器的响应机制研究

更新时间:2015-11-11

【摘要】通过射频磁控溅射法在以128。Y-X LiNb03为压电衬底的声表面波(SAW)小波器件上沉积了一层Zn0薄膜作为紫外光敏感膜,利用网络分析仪对所制备探测器的紫外光响应特性进行了测试。实验结果表明,在波长365 nm、光强210 r_LW/crri2的紫外光照射下,探测器的频移量最大可达到37 kHz,且具有良好的可重复性。探测器的紫外光响应过程和暗场恢复过程均包含了一个快过程和一个慢过程,前者决定于Zn0薄膜表面氧气分子的吸附与解吸附过程,而后者则决定于外界氧气分子与Zn0内部本征缺陷间的慢交换过程。最后,结合声电效应和半导体光电导效应分析给出了探测器紫外光响应过程和暗场恢复过程的理论金式。该文对基于Zn0薄膜的高灵敏度SAW紫外探测器响应机制的揭示,为其瞬态特性的改善和实用化提供了思路。

【关键词】

11 2页 免费

发表评论

登录后发表评论 (已发布 0条)

点亮你的头像 秀出你的观点

0/500
以上留言仅代表用户个人观点,不代表中教立场
相关文献

推荐期刊

Copyright © 2013-2016 ZJHJ Corporation,All Rights Reserved

京ICP备2021021570号-13

京公网安备 11011102000866号